可控硅（晶闸管）作为关键功率开关器件，其状态直接影响电路稳定性。本文详解用万用表快速判断可控硅好坏的实操方法，覆盖单/双向类型检测逻辑。
一、可控硅基础与检测原理
可控硅由PNPN四层半导体构成，含阳极(A)、阴极(K)、门极(G)三个电极。其核心特性为：门极触发导通后维持通态，仅当电流低于维持电流时关断。
| 电极功能 | 导通条件 |
|—————–|———————–|
| 阳极(A)-阴极(K) | 门极触发+正向电压 |
| 门极(G)-阴极(K) | 提供触发信号通路 |
检测逻辑：通过测量极间电阻变化验证触发功能与维持特性。
二、万用表检测实操步骤
1. 单向可控硅基础检测
步骤1：静态电阻测试
– 万用表调至电阻档（R×1k）
– 测量A-K极间电阻：正常应为∞（反向）或数百kΩ（正向）
– G-K极间电阻：通常为数十至数百Ω
步骤2：触发能力验证
1. 红表笔接A极，黑表笔接K极（显示高阻）
2. 短接G-K极（用导线或表笔触碰）
3. 移除G极连接：若A-K间保持低阻（约几十Ω），表明触发功能正常
2. 双向可控硅检测要点
- 采用T1/T2主端子+门极(G) 结构
- 测试时需对T1/T2双向触发验证：
- 红表笔接T1，黑表笔接T2（初始高阻）
- 短接G-T2后移除：应保持导通
- 调换表笔重复上述操作
3. 常见故障现象对照表
| 测试现象 | 可能故障原因 |
|---|---|
| A-K/G-K间电阻为0 | 极间击穿短路 |
| 触发后无法维持导通 | 维持电流特性失效 |
| 任意两极间电阻∞ | 内部开路 |
三、操作注意事项
- 安全防护：测试高压电路前断开电源，释放电容残余电荷
- 误判规避：
- 触发时确保表笔接触良好
- 大功率可控硅需用电池供电万用表（提供足够触发电流）
- 器件保护：避免用高阻档测量G极，防止静电损伤(来源：IEC 60747标准, 2020)
关键提示：部分数字万用表的二极管档输出电压不足，可能导致触发失败，建议优先选用机械表或专用测试仪。
掌握上述方法可快速筛查90%以上可控硅故障。实际应用中需结合电路工作电压与负载特性综合判断，避免忽略隐性性能劣化问题。
