掌握双向可控硅（TRIAC）的基础检测技能，是电子维修与设计中的关键环节。本文将系统介绍使用万用表进行静态与动态测试的操作步骤，并解答触发异常、漏电等典型故障的排查思路。
一、基础检测：万用表测量法
静态电阻测试
- MT1与MT2间阻值：正常状态下呈现高阻态（兆欧级），若出现低阻值则可能击穿。
- 门极（G）阻值：门极对MT1/MT2通常存在数十至数百欧姆阻值，开路或短路均属异常。
触发能力简易测试
- 万用表调至电阻档，红表笔接MT2，黑表笔接MT1，显示应为无穷大。
- 短接门极（G）与MT2，表针应摆动指示导通。
- 断开G极连接后，导通状态应保持（负载敏感型可控硅可能复位）。
二、进阶诊断技巧
动态触发电压测试
部分数字万用表具备晶体管测试功能，可直接显示触发电压（Vgt）。触发电压过高（如超过3V）可能导致电路驱动不足。
提示：
动态测试需配合直流电源与限流电阻搭建简易电路，观察可控硅在触发信号下的导通/关断特性。
常见失效模式对照表
| 现象 | 可能原因 |
|---|---|
| 无法触发导通 | 门极开路、触发电压过高 |
| 触发后不能维持导通 | 维持电流不足、器件老化 |
| MT1-MT2间漏电流大 | 内部污染、部分击穿 |
三、典型问题解决方案
为何触发后无法维持导通？
当负载电流低于维持电流（Ih）时，可控硅将自动关断。需检查：
* 负载阻抗是否过大
* 驱动脉冲宽度是否足够
* 器件规格书中的Ih参数
测量正常但上电误触发？
电压变化率（dv/dt）过高是主因：
* 在MT1-MT2间并联缓冲电路（RC网络）
* 确保门极走线远离干扰源
* 选用高dv/dt耐受型号
